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模塊高溫老化系統(tǒng) 我有新說法
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模塊高溫老化系統(tǒng)是一種用于電子與通信技術(shù)、產(chǎn)品應(yīng)用相關(guān)工程與技術(shù)領(lǐng)域的工藝試驗(yàn)儀器,于2003年3月8日啟用。

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模塊高溫老化系統(tǒng)技術(shù)指標(biāo)

系統(tǒng)烘箱部分:溫度:室溫~150℃,過沖≤3℃,升溫時(shí)間≤40min,溫度偏差≤±2℃,溫度均勻度≤4℃雙重超溫保護(hù)裝置:系統(tǒng)電源與電子負(fù)載部分:共32個(gè)老化試驗(yàn)區(qū),每個(gè)老化區(qū)包含八路正電子負(fù)載和八路自適應(yīng)電子負(fù)載(可正可負(fù)),每路電子負(fù)載工作條件(5V~30V,功率不超過75W)單個(gè)老化區(qū)電子負(fù)載總功率不超過19200W;電源輸出電壓范圍:0~40V,輸出電流范圍:0~30A,紋波≤50mV。[1]

模塊高溫老化系統(tǒng)主要功能

對(duì)DC/DC電路進(jìn)行專業(yè)的壽命試驗(yàn),可以單獨(dú)控制殼溫,每個(gè)試驗(yàn)工位單獨(dú)控溫,單獨(dú)監(jiān)測,獨(dú)立的試驗(yàn)系統(tǒng)。[1]
參考資料


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