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日本SSD進(jìn)口H0110-S4B測量儀器MEASURES

日本SSD進(jìn)口H0110-S4B測量儀器MEASURES

靜電衰減測量儀適用于檢查材料的靜電擴(kuò)散率，通過用電暈放電產(chǎn)生的空氣離子照射樣品使樣品帶電，然后在停止照射空氣離子后檢查電荷的衰減曲線。 。全新升級為H0110-S4B。

該設(shè)備符合JIS L1094-1980半衰期測量儀的要求，即測試紡織品和針織物靜電性能的方法。（如果需要用20mm的探頭高度進(jìn)行校準(zhǔn)，請在購買時注明。）

作為使樣品帶電的方法，使用通過電暈放電產(chǎn)生的空氣離子的照射，通過選擇電暈放電的極性和施加電壓，可以使樣品帶正電或負(fù)電。

可以測量所有片狀樣品，例如薄膜、板材、線、布料、地毯和玻璃。但重量、厚度、尺寸有限制，請聯(lián)系我們。

Honest 可以進(jìn)行演示測量。請與我們聯(lián)系以獲取更多信息。

誠實數(shù)據(jù)分析系統(tǒng)已升級至V3。H0110-S4B 還支持 Honest。

為了將V3連接到H0110-S4A，需要對主機進(jìn)行修改。對于其他舊型號，可能無法修改連接，請聯(lián)系我們。

從H0110-S4開始，校準(zhǔn)時的標(biāo)準(zhǔn)探頭高度為15毫米，符合JIS。如需20mm校準(zhǔn)，請在訂購時注明。

購買時注明AC100V 50Hz/60Hz。