安徽澤攸科技有限公司
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澤攸科技ZEM系列臺式掃描電子顯微鏡（SEM）憑借其超高的便捷性、創新的技術設計、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展，已成為科研與工業領域微觀分析的重要工具。該系列產品以高度集成化、操作便捷性和廣泛適用性為核心優勢，覆蓋了從基礎研究到深層次材料分析的多層次需求。ZEM系列采用多項自主創新技術，例如真空分隔技術，通過電子槍與樣品倉的真空分離設計，顯著縮短換樣時間，同時支持高真空與低真空模式。
ZEM Pro單晶燈絲臺式掃描電鏡
產品介紹
ZEM20pro臺式掃描電鏡采用單晶燈絲，最高放大36萬倍，分辨率可達3nm。自動亮度對比度、自動聚焦、大圖拼接。超大樣品倉可集成多種原位拓展平臺，滿足不同實驗及檢測需求。
產品特色
▲ 兼容擴展性強
▲ 高性價比
▲ 多級防震
▲ 多種成像模式
▲ 高分辨觀察
▲ 易用性強
產品參數
電子槍：單晶燈絲
探測器：二次電子探測器、四分割背散射電子探測器、集成式能譜儀(選配)
樣品臺：兩軸：X:60mm Y：55mm 三軸、五軸可選
樣品容納大?。篨Y可自由移動：105*87*51.5mm靜止：165*122*51.5mm
XY可自由移動：75*72.8*26.6mm靜止：165*122*26.6mm
減速模式：選配(0-10kv樣品臺電壓減速)
應用案例
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