安徽澤攸科技有限公司
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澤攸科技ZEM系列臺式掃描電子顯微鏡（SEM）憑借其超高的便捷性、創新的技術設計、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展，已成為科研與工業領域微觀分析的重要工具。該系列產品以高度集成化、操作便捷性和廣泛適用性為核心優勢，覆蓋了從基礎研究到深層次材料分析的多層次需求。ZEM系列采用多項自主創新技術，例如真空分隔技術，通過電子槍與樣品倉的真空分離設計，顯著縮短換樣時間，同時支持高真空與低真空模式。
ZEM Ultra場發射臺式掃描電鏡
產品介紹
ZEM Ultra 臺式掃描電鏡采用肖特基場發射電子源，三級獨立真空設計，優于2.5nm的分辨率滿足多數樣品微納結構表征需求。標配大束流及大樣品倉，支持原位功能樣品臺及EDS/EBSD拓展。
產品特色
▲ 全自動操作
▲ 肖特基場發射電子槍
▲ 高穩定性
▲ 高分辨觀測
▲ 豐富拓展
▲ 易用性強
產品參數
圖像像素尺寸（默認）：512*512（視頻）2048*2048（拍照）
燈絲類型：場發射燈絲
電動樣品臺：XY二軸/XYZ三軸/XYT三軸/五軸
探測器類型：BSE、SE、EDS
減速模式：選配（0-10kv樣品臺電壓減速）
應用案例
金顆粒150000X （左）碳納米管 20000X（右）
磷酸鐵鋰 30000X（左）二氧化硅 100000X（右）
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