OIP200B光隔離探頭 OIP100B
OIP 系列光隔離探頭采用 SigOFIT ™光隔離技術，精確解決存在大共模電壓情況下的高帶寬以及高電壓差分信號問題，在其帶寬范圍內提供YI流的共模抑制性能， 為您提供最JIA的隔離測量解決方案。
特點：
●100MHz/ 200MHz帶寬
●高達 160dB 的共模抑制比
●1.5% 測量精度
●1mVrms 左右的噪聲
●采用尺寸小，連接穩定安全的 SMA 接頭
●差分電壓可達 ±1250Vpk
●共模隔離電壓高達 50kVpk
應用場景：
●氮化鎵、碳化硅、IGBT 半 / 全橋設備的設計與分析
●逆變器、UPS 及開關電源的測試
●高壓高帶寬測試應用的安全隔離測試
●寬電壓、寬帶測試應用
●各種浮地測試
高精度測量的結果：
OIP系列光隔離探頭可以提供 1.5% 的高測量精度，ZUI大程度保證了信號的完整性，是您最JIA的測量方案選擇。
高可靠的連接方式：
OIP系列光隔離探頭采用 SMA 高質量微波高頻連接器，其尺寸小，連接穩定，可以ZUI大程度上保證連接的可靠性。
氮化鎵與碳化硅測試的選擇：
OIP系列光隔離探頭通過光學隔離幾乎消除了共模干擾，憑借其高共模抑制比、短測量環路、高共模&范圍低衰減倍數，相比于使用差分探頭，可以大大減少測量時產生的震蕩和噪聲。
極其便捷與輕松的測量體驗：
OIP系列光隔離探頭光-電 還原器采用示波器 USB 端口供電，電 - 光轉換器采用自身電池供電，可以持續工作 10 小時以上，無額外適配器，配合麥科信 TO 系列平板示波器，可以獲得極其便捷與輕松的測量體驗。
最準確的 GaN 和 SiC 表征
最佳的信號完整性
● 1.5% 測量精度
● 高達 160dB 的共模抑制比
● 1mVrms 左右的噪聲
解決傳統差分探頭測量時的困擾
● 更小的震蕩與噪聲
● 高共模電壓時，依然可以通過小衰減比的探頭
前端提高測量的精度
高可靠性連接
● 采用 SMA 連接，尺寸小，連接穩定
● 可保證最小測量環路
● 通過不同衰減比的衰減器，可測差分電壓
可達 ±1250Vpk
OIP200B光隔離探頭 OIP100B
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