尼康投影機訊：
1 探傷靈敏度
2 用于葉輪鍛件的探傷靈敏度，應能有效地發(fā)現被檢鍛件中當量直徑等于和大于2mm的缺陷。為便于發(fā)現缺陷，允許在尋找缺陷的掃查中使用高于規(guī)定數值的靈敏度。但在發(fā)現缺陷之后進行的各項測量工作，則必須在規(guī)定的靈敏度下進行。
3 為了調整探傷靈敏度的需要，應在掃描線上方等于屏高40%~80%的范圍內事先選定一個平行于掃描線的基準高度。
4 當被探部位的厚度大于探頭的三倍近場區(qū)時，可任意選用底波調整法或試塊調整法調整探傷靈敏度。當被探部位的厚度等于或小于探頭的三倍近場區(qū)時，應采用試塊調整法。
55 底波調整法
6先用能足以顯示材料組織的高靈敏度在鍛件上找出無缺陷的部位。
7在符合5.4.1條要求的部位上把底波幅度調到等于基準高度。
8 根據被探部位的厚度提高探傷儀增益至規(guī)定數值，該數值可用下式求得：
M=(2λT)/(πd2)
式中：M－需提高的增益倍數；T－被探部位的厚度，mm；
d－平底孔直徑，mm(此處d等于2mm)；λ－波長，mm；π－圓周率，即3.14159。
9 試塊調整法
9.1 使用CS-2型參考試塊或具有等效作用的其它試塊上測距等于或近于鍛件厚度，直徑2mm的平底孔進行調整。
5.5.2 把符合5.5.1條要求的平底孔信號幅度調至等于基準高度。
