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高壓開關(guān)脈沖電源接觸電阻測試儀的設(shè)計(jì)

2025年05月04日 08:06:57      來源:上海天皋電氣有限公司 >> 進(jìn)入該公司展臺(tái)      閱讀量:7

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0 引言

高壓開關(guān)主要是用于關(guān)合及開斷正常的或有故障的電路?也可以用來隔離高壓電源?它是保證電力系統(tǒng)安全運(yùn)行的重要設(shè)備。由于高壓開關(guān)在電力系統(tǒng)中肩負(fù)著控制和保護(hù)的雙重任務(wù)?其性能的可靠性程度將對電力系統(tǒng)的安全運(yùn)行起著至關(guān)重要的作用?所以對高壓開關(guān)的各個(gè)參數(shù)指標(biāo)的可靠性進(jìn)行評估十分必要?其中導(dǎo)電回路電阻即接觸電阻是這些參數(shù)中*重要的參數(shù)之一。高壓開關(guān)的觸頭接觸面經(jīng)過多次的開斷、關(guān)合電流后逐漸被電磨損?導(dǎo)致接觸電阻增大?這對高壓開關(guān)的開斷和導(dǎo)電性能都會(huì)產(chǎn)生非常不利的影響。而通過測量接觸電阻阻值可以估計(jì)出觸頭的磨損程度和回路的接觸狀況。

接觸電阻一般是微歐級的小電阻。目前*常用的接觸電阻測量方法是直流電壓降法?即向高壓開關(guān)通入100 A 以上的恒定大電流?測量高壓開關(guān)兩端的電壓降?根據(jù)歐姆定律計(jì)算出高壓開關(guān)的接觸電阻值。然而?在長時(shí)間通入恒定大電流時(shí)?容易使觸頭過度發(fā)熱和加速氧化?從而引起接觸電阻測量值的附加誤差?而且通常使用的大電流發(fā)生器體積和重量都比較大(一般在幾千克到十幾千克左右)?不利于攜帶和現(xiàn)場測試使用。因此?設(shè)計(jì)一種既能保證在接觸電阻上引起的附加電阻非常小、又能夠減小測試儀器的體積和重量的新型電源工作方式?有著重要的現(xiàn)實(shí)意義。

筆者采用脈沖電源測量接觸電阻、智能化嵌入式系統(tǒng)采集和處理數(shù)據(jù)的方法?設(shè)計(jì)出一種在**度和穩(wěn)定度都滿足要求的前提下便于攜帶和現(xiàn)場使用的高壓開關(guān)接觸電阻測試儀。

1 高壓開關(guān)接觸電阻測試儀原理

脈沖電源接觸電阻測量方法即采用脈沖電源對電容充電?然后該充電電容對串聯(lián)的二階電路進(jìn)行放電?產(chǎn)生的沖擊電流即為脈沖電源的脈沖輸出電流?測量原理框圖如圖1所示(虛線框內(nèi)為脈沖電源部分)。測量過程主要分為充電過程、放電過程、數(shù)據(jù)采集處理過程(數(shù)據(jù)采集是在放電過程中完成的)以及結(jié)果顯示。

圖1中?首先由 LPC2378控制充電回路繼電器開關(guān) K1 閉合?放電回路可控硅開關(guān) K2 斷開?使得可控電源給電容器 C 充電?充電完成后?LPC2378控制充電回路繼電器開關(guān) K1 斷開?放電回路可控硅開關(guān) K2 閉合?此時(shí)電容器 C 放電產(chǎn)生一個(gè)沖擊電流至高壓開關(guān)和分流器?同時(shí) LPC2378通過A/D轉(zhuǎn)換器連續(xù)采集分流器兩端電壓和高壓開關(guān)兩端電壓?并通過軟件編程來判斷放電電流是否達(dá)到峰值。

峰值電壓是通過采集高壓開關(guān)兩端的電壓得到的?峰值電流是通過采集分流器兩端的峰值電壓除以分流器電阻得到的?這樣?就可得到高壓開關(guān)接觸電阻

兩端的電壓和通過的電流?進(jìn)而得到高壓開關(guān)的接觸電阻阻值。

電流、電壓信號(hào)采集部分均使用了四端子接線技術(shù):使用2對測試夾測量高壓開關(guān)兩端電壓?電流引線接在導(dǎo)電桿外側(cè)(圖1中2和2' 點(diǎn)處)?電壓引線接在導(dǎo)電桿內(nèi)側(cè)(圖1中1和1' 點(diǎn)處);測量放電回路電流時(shí)?采用具有4個(gè)端子的標(biāo)準(zhǔn)電阻---分流器?分流器中2個(gè)大的端子是電流端子?與被測高壓開關(guān)串聯(lián)?2個(gè)小的端子是電壓端子?通過采集這2個(gè)小的端子之間的電壓信號(hào)可確定放電回路的電流。采用四端子接線技術(shù)可有效地消除引線電阻和測試夾接觸電阻的影響?提高測量精度。

2 高壓開關(guān)接觸電阻測試儀的設(shè)計(jì)

為了提高測量精度和儀器的抗干擾能力?該測試儀在硬件上選用的是飛利浦公司生產(chǎn)的 ARM7核的工業(yè)級32位處理器 LPC2378?LPC2378具有512KB 的片內(nèi) FLAS H?*高頻率可達(dá)72 M Hz;在軟件上采用平滑濾波方法?以消除部分受干擾的數(shù)據(jù)。

2.1 硬件結(jié)構(gòu)

該測試儀的硬件電路主要分為2個(gè)部分:一是脈沖電源部分?主要包括充、放電回路和可控硅及繼電器等;二是以 LPC2378為中心的數(shù)據(jù)采集部分?主要包括信號(hào)調(diào)理、A/D 轉(zhuǎn)換、信號(hào)隔離、人機(jī)接口等電路。

(1) 脈沖電源部分

如圖2所示?220V 交流電先經(jīng)過隔離變壓器進(jìn)入到 J1 兩端?然后經(jīng)二極管 D0 進(jìn)行半波整流?通過 LPC2378的 P2.1口控制繼電器開關(guān) K1 對電解電容 C1 進(jìn)行充電。二極管 D2 用來限制 C1 放電電流的方向?防止 C1 被反向充電。電阻 R1 為充電限流電阻。充電過程中?繼電器開關(guān) K1 閉合?可控硅開關(guān) K2 斷開?當(dāng) C1 兩端電壓達(dá)到所需的電壓值時(shí)?通過 A/D 轉(zhuǎn)換器不斷檢測分壓電阻 R3 兩端電壓以判斷充電是否完成。斷開繼電器開關(guān) K1、閉合可控硅開關(guān) K2?則 C1 便開始對后面的電路進(jìn)行放電。放電開始的同時(shí)進(jìn)行分流器和被測高壓開關(guān)兩端電壓信號(hào)的采集任務(wù)。

(2) 數(shù)據(jù)采集部分

由于分流器兩端電壓信號(hào)為毫伏級?為減少測量誤差?選用 INA114儀用放大器?INA114具有高輸入阻抗、低輸出阻抗、低溫漂、高共模抑制能力、低

失調(diào)電壓、高穩(wěn)定增益等特點(diǎn)。A/D 轉(zhuǎn)換器選用12位的逐次逼近型 MCP3204?MCP3204具有4個(gè)通道?可分別檢測分壓電阻 R3 兩端電壓、分流器兩端電 壓 和 高 壓 開 關(guān) 兩 端 電 壓?采 樣 速 率 達(dá)100kbit/s。信號(hào)隔離采用常用的 T LP512隔離芯片。人機(jī)接口電路選用 HG240128液晶顯示模塊?該模塊支持字符顯示?帶溫度補(bǔ)償自動(dòng)調(diào)解背光?抗干擾性較強(qiáng)?有240×128個(gè)點(diǎn)?可直觀顯示測量結(jié)果。

2.2 軟件設(shè)計(jì)

由于在短時(shí)間內(nèi)連續(xù)采集數(shù)據(jù)?還要處理采集的數(shù)據(jù)、判斷電流、電壓峰值?所以軟件設(shè)計(jì)是該測試儀的一個(gè)重要部分?其主程序流程如圖3所示。

主程序的功能主要是進(jìn)行脈沖電源的充放電控制?調(diào)用各子程序模塊并進(jìn)行數(shù)據(jù)處理得出所要測量的高壓開關(guān)接觸電阻阻值。

(1) 初始化:包括 CPU 的輸入、輸出端口初始化、液晶顯示初始化以及定時(shí)器初始化等。

(2) 采集信號(hào):不斷采集分流器、高壓開關(guān)(斷路器)兩端電壓?進(jìn)行 A/D 轉(zhuǎn)換后送入 CPU?由于要判斷電流峰值?所以放電過程中要連續(xù)采集20次

分流器兩端電壓?采集次數(shù)主要與 CPU 頻率和A/D轉(zhuǎn)換頻率有關(guān)?采集次數(shù)越多?結(jié)果越**。采集的數(shù)據(jù)暫時(shí)存儲(chǔ)以供數(shù)據(jù)處理用。

(3) 處理數(shù)據(jù):對采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行平滑濾波處理?然后進(jìn)行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換處理?*后得到放電回路中的峰值電流和峰值電流時(shí)刻高壓開關(guān)兩端電壓值?進(jìn)而得到高壓開關(guān)接觸電阻阻值。

(4) LCD 顯示結(jié)果:主要調(diào)用顯示子程序?qū)z測到的電流值繪制成曲線以及顯示接觸電阻阻值。

3 高壓開關(guān)接觸電阻測試儀的技術(shù)性能指標(biāo)

供電電壓:AC220V;

測試對象:高壓開關(guān)、接觸器等開關(guān)器件的接觸電阻;

測量范圍:1~5000μΩ;

測試電流(峰值):100~500A;

分辨率:1μΩ;

準(zhǔn)確度:0.2%。

4 結(jié)語

本文采用脈沖電源?結(jié)合嵌入式系統(tǒng)在數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理中的速度優(yōu)勢?設(shè)計(jì)出一種在**度和穩(wěn)定度都滿足要求的前提下?便于攜帶和現(xiàn)場使用的高壓開關(guān)接觸電阻測試儀。實(shí)際應(yīng)用表明?該測試儀在測量精度和穩(wěn)定性上比采用傳統(tǒng)測量方法有了較大的提高?且體積小、重量輕?給現(xiàn)場測試帶來了方便?有較好的應(yīng)用推廣價(jià)值。












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