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安捷倫ICP-OES可以實現同步的水平和垂直測量

2025年05月06日 18:40:18      來源:儀器百科 >> 進入該公司展臺      閱讀量:7

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  安捷倫ICP-OES可以實現同步的水平和垂直測量。配合使用垂直炬管與速度更快且無需氣體吹掃的 VistaChip II CCD 檢測器,5100 ICP-OES(也稱作 ICP-AES)能夠以一半的氬氣用量來運行*挑戰的樣品,速度可提升 55%,并且不影響任何分析性能。
 
  安捷倫ICP-OES特性:
 
  ●  *的智能光譜組合 (DSC) 技術可實現同步水平和垂直信號測量,消耗更少氣體即可運行快的 ICP-OES 分析
 
  ●  高級閥系統 (AVS) 可降低每次分析成本并使分析效率提高一倍以上
 
  ●  垂直炬管設計可以測量包括高基質和揮發性有機溶劑在內的復雜樣品
 
  ●  通過分析過程中精準氣泡注入控制,可選 AVS 能夠有效縮短樣品提升、穩定時間和清洗延時,從而實現高精度的分析
 
  ●  固態 RF 系統可提供穩定的等離子體,確保長期穩定的分析性能
 
  ●  IntelliQuant 模式使樣品中的所有元素一目了然,大大簡化了方法開發過程并實現了快速樣品篩選
 
  ●  直觀的 ICP Expert 軟件和 DSC 技術使方法開發更為便捷流暢
 
  ●  *集成式切換閥與即插即用式炬管極大程度減少了培訓需求,確保實現快速啟動。
 
  ●  5110 提供三種靈活配置:同步垂直雙向觀測、垂直雙向觀測和垂直觀測。
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