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光電子顯微鏡技術(shù)指標(biāo)
Focus PEEM的電子光學(xué)系統(tǒng)包括三級(jí)靜電透鏡系統(tǒng)，結(jié)合精心設(shè)計(jì)的消像散器/偏轉(zhuǎn)模塊，使得Focus PEEM具有的空間分辨率。 1.符合VT-SPM UHV系統(tǒng)工作條件及安裝要求 2.橫向分辨率優(yōu)于40nm 3.分析區(qū)域的尺寸連續(xù)可調(diào)，最小分析區(qū)域直徑5微米，分析區(qū)域直徑600微米 4.儀器面板操作控制或計(jì)算機(jī)軟件控制 5.計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)采集、處理，12.5幅/秒采集速度 6.可選配集成樣品臺(tái)，提供高的穩(wěn)定性和定位精度以及信噪比 7.樣品可加熱至約2000度。[1]
光電子顯微鏡主要功能
通過(guò)觀察樣品表面發(fā)射的電子，可以獲得分辨率的表面形貌、化學(xué)成分和磁性信息（橫向分辨率可達(dá)到40nm）。[1]
參考資料
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