角分辨光譜系統
AR角分辨光譜儀測量范圍為250~2500 nm，內置氘燈/鹵素燈光源，與外控制器連接，分束鏡選用Polka，考慮到色差因素，光路設計，可集成Fluorite石英透鏡消除色差。
典型應用
角分辨光譜測量主要應用于光子晶體、超材料、光柵、結構色、超晶格材料、微納光學、納米材料、LED液晶材料等光學特性的表征。
1、薄膜光譜：該系列樣品具有能帶結構，在光譜呈現方面不同，因此需要光譜測量系統具有精確的角度分辨能力；
2、SPP/SPR：表面等離子體的光譜比較敏感，對角度依賴性較強，因此需要光譜測量系統具有寬泛的光譜測量波段和精確的角度分辨能力；
3、meta-material：在不同偏振態下，待測樣品的光譜特性不同，因此需要光譜測量系統具有各偏振的分辨能力。
典型案例
光柵角分辨光譜
從圖中可以看出，光柵樣品的角分辨光譜具有一個正常色散能帶和一個反常色散能帶。Y軸為光柵樣品的衍射光譜與白板散射光譜的比值。
產品特點
1、角度測量范圍覆蓋0~360°全角度測量；
2、波段范圍涵蓋250~2500 nm寬譜段測量；
3、多維度精細調節，適合樣品的多樣性測量；
4、適配多波段偏振器件、濾光片等光學元件，可加載旋轉調節支架，便于調劑。
5、配置高精度電機，角度重復精度±0.05°，能夠實現高精度的角度定位，滿足各種角度的設置需求。
6、外部可新增Laser光源接口，使得AR測量可拓展到角分辨熒光光譜領域。
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