PicoFemto 系列透射電子顯微鏡 原位電學測量樣品桿 是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量，并在電學測量的同時，動態、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領域。
技術指標
| 電學測量 | 力學操縱 |
| 1.包含一個電流電壓測試單元； | 1.探針粗細調方式：全軟件操控； |
| 2.電流測量范圍：1nA-30mA； | 2.粗調范圍：XY方向2.5mm，Z方向1.5mm； |
| 3.電流分辨率：100fA； | 3.細調范圍：XY方向18um，Z方向1.5um； |
| 4.電壓輸出范圍：±10V，±150V； | 4.細調分辨率：XY方向0.4nm，Z方向0.04nm； |
| 5.軟件自動測量：I-V、I-t |
產品選型
原位電學測量樣品桿 具有單傾、雙傾兩個版本，用戶可根據實驗需求自行選擇。
澤攸科技提供適配Thermofisher/FEI（賽默飛）、JEOL（日本電子）、Hitachi（日立）各型號透射電子顯微鏡及極靴的不同型號樣品桿，同時保證透射電鏡原有分辨率。
國內部分用戶
典型案例
1、透射電鏡內的原位電學實驗；
2、透射電鏡內的原位壓縮、拉伸實驗。
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