iSpec-XSR400系列微納器件光譜響應度測試系統是一款專用于低維材料光電測試的系統。其功能全面，提供多種重要參數測試。系統集成高精度光譜掃描，光電流掃描以及光響應速率測試。40μm探測光斑，實現百微米級探測器的光譜響應度測量。超高穩定性光源支持長時間的連續測試，豐富的光源選擇以及多層光學光路設計可擴展多路光源，例如超連續白光激光器，皮秒脈沖激光器，半導體激光器，鹵素燈，氙燈等，滿足不同探測器測試功能的要求。是微納器件研究的優選。
光源可選氙燈光源、超連續白光光源、連續激光器、皮秒脈沖激光器
制冷樣品臺溫度范圍-196℃-600℃（-196攝氏度需要選擇專用冷卻系統）
示波器采樣率可達5GS/S，記錄長度10M
可以引入可調單色光源，進行全光譜范圍的光譜響應度測試
紫外增強氙燈和EQ99光源的單色光能量曲線，使用40倍反射式物鏡，300mm焦距光譜儀，光譜儀使用1200刻線300nm閃耀光柵，光斑直徑大小80um。
光譜響應度
外量子效率
單色光/變功率IV
不同輻照度IT曲線（分辨率200ms）
不同偏壓下的IT曲線
LBIC，Mapping
線性度測試
響應速率測試
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