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萊森光學通過利用的光電半導體設計技術和軟件技術，我們成功開發(fā)了一種新型光譜儀，在 200 nm 至 900 nm 的光譜范圍內達到 2,500,000:1 的動態(tài)范圍，可同時測量強弱信號。這種科學級高靈敏度光譜儀是萊森光學（LiSen Optics）光纖光譜儀系列中的型號。

將科學級高靈敏度光譜儀作為模塊整合到組分分析儀中，利用物質在紫外至近紅外區(qū)域的光吸收特性，將能夠同時分析樣品中的各種組分。這包括吸收大量光線的高含量組分和吸收少量光線的低含量組分。這通過檢測物質中的痕量雜質而避免重復測量，從而提高了化學品質量控制中的組分分析效率。萊森光學的科學級高靈敏度光譜儀還可以對等離子體釋放量進行高精度分析，有助于在等離子體應用研究方面取得更多進展。

拉曼測量系統(tǒng)主要由光譜儀、激光器、拉曼探頭、拉曼識別光譜分析軟件等組成，拉曼散射主要為斯托克斯和反斯托克斯，斯托克斯拉曼散射通常要比反斯托克斯散射強得多，拉曼光譜儀通常測定的大多是斯托克斯散射，常用拉曼光譜儀有532/785/1064拉曼光譜儀，拉曼測量相對熒光信號會更弱一個數量級，通常我們在針對微弱拉曼信號測量我們要進行表面拉曼增強（SERS）的方法來提高拉曼信號SERS。

萊森光學的光纖光譜儀因其的靈敏度和高信噪比的特點，可以搭配激光器、拉曼探頭等配件，進行對微弱光譜信號的拉曼測量應用，廣泛應用于食品安全、化學實驗室、生物及醫(yī)學等光學方面領域，研究物質成分的判定與確認；還可以應用于刑偵中對的檢測及珠寶行業(yè)的寶石鑒定。

輻射光能量可以量化為輻射通量，即一種表征從光源發(fā)出的每秒輻射能量（W）的度量標準。輻射測量一般要通過已知光譜能量分布的標準光源，對光譜儀系統(tǒng)進行輻射標定，才能通過量化參數進行輻射測量。輻射能量與人眼視覺相關聯(lián)（光度學），就可以得到按照CIE中所定義的表征觀測者平均視覺的光譜發(fā)光效率函數。因此輻射測量定義輻射度學參數、光度學參數、色度學參數。輻射度學參數主要以輻照度μW/cm²、輻亮度µWatt/sr、輻射通量µWatt以及光子數µMol/s/m²，µMol/m²，µMol/s和µMol，光度學參數流明Lumens、光照度Lux、光強度Candela，色度學參數X，Y，Z，x，y，z，u，v，色溫、CRI顯色指數等。

 輻照度測量

 LED顏色測量

光譜儀測量吸光度的方法是將某一波長的平行光通過一塊平面平行物體，對透過物體的光束進行檢測。由于一部分能量被樣品中的分子吸收，檢測的入射光的強度要高于透過樣品的光強。吸光度被廣泛運用于液體和氣體的光譜測量技術中，可以對物質進行定量鑒別或指紋認證等，還可以將該應用集成到工業(yè)應用環(huán)境和客戶所關注的測試中。

使用萊森光學模塊化光譜儀，可針對特定的吸光度測量來選擇不同波長范圍和分辨率的光譜儀，并且能在實驗室或者現場，對整套光學測量裝置進行快速配置。可以基于萊森光學優(yōu)質的光譜儀，選擇紫外光源、不同光程氣室、吸收池、特定吸收光路模塊、光纖探頭進行靈活易用的搭配，針對不同的吸光度試驗搭配出多種配置選擇。

 液體吸光度

 氣體吸光度

薄膜測量系統(tǒng)是基于白光干涉原理來確定光學薄膜的厚度。白光干涉圖樣通過數學函數被計算出薄膜厚度。對于單層膜，若已知薄膜介質的n和k值即可計算出它的物理厚度。測量的膜層厚度從10 nm到50 um，分辨率可達1 nm。薄膜測量應用于半導體晶片生產工業(yè)，此時需要監(jiān)控等離子刻蝕和沉積加工過程。還可用于其它需要測量在金屬和玻璃基底上鍍制透明膜層的領域，如金屬表面的透明涂層和玻璃襯底。

左邊的圖表顯示了用科學級高靈敏度光譜儀測量厚度為10nm或更小的超薄膜的反射率的結果。科學級高靈敏度光譜儀可以測量由于厚度為幾納米而引起的反射率差異，并且可以根據該波形計算膜厚度值。右邊的圖表將用科學級高靈敏度光譜儀和我們的傳統(tǒng)模型（PMA-12）測量的膜厚度值與能夠進行高精度膜厚度測量的橢圓儀測量的膜厚值進行了比較。科學級高靈敏度光譜儀與橢圓儀的測量結果相差很小，沒有變化。

隨著工業(yè)的蓬勃發(fā)展，對材料本身特性的質量控制愈加嚴格，利用光纖光譜儀進行快速準確的透/反射光譜的測量技術也日益成熟。透/反射光譜測量是光譜測量的基本手段，通常需要使用光譜儀、光源、光纖、測量支架、標準參比樣品、和測量軟件等設備。對于不同種類的樣品，為了獲取更好的光譜數據，這兩種基本模式又會演化為更多的形式。

光纖光譜儀采用光纖光路，解決了光路在儀器集成中的限制。并且萊森光學的光纖光譜儀具有體積小，穩(wěn)定性高，支持軟件二次開發(fā)，配件豐富等特點，已經成功的廣泛應用于玻璃、高分子材料等行業(yè)的測試。萊森光學為用戶提供了以光譜儀為核心的光譜測量設備，利用這些配置豐富的設備，即可搭建各種常見的光譜測量系統(tǒng)。

 反射測量

 透射測量

熒光物質在特定波長的輻射能量輻射下，能發(fā)射出具有一定光譜分布的輻射。熒光光譜測量靈敏度高、選擇性強、樣品用量少、方法簡便且具備環(huán)保性，具有如上諸多優(yōu)點，所以在工程應用中有著廣泛的應用，如在食品加工過程中用于食品安全的監(jiān)測、生物醫(yī)學中用于病變的熒光診斷、地質學中用于石油礦物勘探、土壤礦物成分的測定以及物質中微量元素的檢測等等。

熒光光譜測量通常需要高靈敏度的光譜儀。對于大多數熒光應用來說，產生的熒光能量只相當于激發(fā)光能量的3%左右。熒光的光子能量比激發(fā)光的光子能量小，波長長，而且一般都是在各個方向上輻射能量的散射光。萊森光學光纖光譜儀采用了可更換狹縫、可選擇的波長范圍和分辨率設計，使客戶能根據自己的需求配置自由搭配適合參數的熒光測量系統(tǒng)。

使用傳統(tǒng)的光譜儀，在測量強光（如激光）時，很難同時測量其他波長的弱光，因為當曝光時間被測量時，檢測器被強激光信號飽和。因此，有必要用濾光片或類似物來切割激光。科學級高靈敏度光譜儀即使在弱光下也能提供高信噪比測量，適用于同時存在強發(fā)射和弱發(fā)射的等離子體發(fā)射測量。

超高的動態(tài)范圍性能還可以實現高光密度測量。右圖將科學級高靈敏度光譜儀的OD為3的全息濾光片的光密度（OD）值與我們的傳統(tǒng)模型（PMA-12）進行了比較。科學級高靈敏度光譜儀可以檢測到我們傳統(tǒng)模型無法檢測到的高光密度（OD）值。在本例中，科學級高靈敏度光譜儀的超高動態(tài)范圍性能對高濃度溶液和微量物質的色譜測定非常有效

這是由氦鎘激光（波長：325nm）激發(fā)的化合物半導體氮化鎵的光致發(fā)光測量的例子。科學級高靈敏度光譜儀能夠成功測量我們的傳統(tǒng)模型（PMA-12）無法檢測到的高S/N的帶邊發(fā)射和熒光光譜。