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規格參數:

光學系統:光路設計 雙光束系統，同時檢測樣品光束和參比光束，提高儀器的測定精度和準確度

波長范圍 190-890nm，計算機控制自動選擇波長

狹縫 0.2-2.0nm，自動選擇狹縫寬度和高度

光柵 平面全息光柵，刻線密度1800條/mm

雙閃耀波長 236nm和597nm，保證了全譜范圍內都有足夠的光強

燈架 8燈架，自動安裝預熱

檢測器:

特點 全譜高靈敏度陣列式多象素點專用固態檢測器，含有內置式低噪聲CMOS電荷放大器陣列。

火焰原子化系統

氣體控制 全自動氣路控制

背景校正 高強度氘燈校正

火焰靈敏度 5ppm Cu，吸光度≥0.75A，≤0.5% RSD

典型元素檢出限 Cu ≤ 2.0ug/l，Ca ≤ 2.0ug/l

石墨爐原子化系統

背景校正 縱向塞曼效應背景校正

典型元素檢出限 Pb ≤0.1ug/l, Cd ≤0.01ug/l