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一、描述

ES622系列TLP脈沖IV曲線系統是一種先進的 IV 曲線表征系統，旨在高功率時域中模擬 ESD 事件（TLP/VF-TLP/HMM/HBM/MM 脈沖）及監控設備（半導體、分立器件、電路模塊等）。ES622相比之前的ES620，規格更高，功能更多，擴展能力更強，軟件體驗更佳。

傳輸線脈沖(TLP)測試功能旨在滿足最新的 ANSI/ESD STM5.5.1 測試標準，并將高質量矩形脈沖應用于被測器件并記錄器件兩端的電壓和電流。可繪出脈沖 IV 曲線，允許用戶在納秒級時間窗口內表征器件的瞬態響應。設備集成了先進的自動器件故障檢測方法，例如：直流抽檢（V 或 I）、靜態 IV 曲線、熔斷、擊穿和偏置源波動。

VF-TLP 測試旨在模擬 CDM 速度 ESD 事件，并在高速（例如<100 ps 上升時間）ESD 瞬態下捕獲 DUT 兩端的電壓和通過 DUT 的電流。這允許用戶研究器件的響應速度和峰值鉗位電壓。

人體金屬模型(HMM)測試功能是 IEC61000-4-2 系統級 ESD 的替代測試方法。它為低歐姆設備提供了理想標準波形的等效波形，并消除了組件或晶圓級測試的許多 IEC 槍測試問題，例如可重復性、槍尖不精確、阻抗不匹配、來自非屏蔽繼電器的 EMI 干擾以及具有大接地平面和耦合平面的特殊裝置等。

二、特點

• 1.可靈活配置的 TLP 脈沖 IV 曲線系統

• 2.超緊湊的設計系統

• 3.具有多線程處理能力的超快測試速度

• 4.提供 20 A、40A、50 A、100 A、125A、150 A 型號（可定制）

• 5.可用軟件提供高級系統和附件監控和控制（開關壽命監視器、E-Cal 模塊、示波器衰減調整）

• 6.測試功能可通過 VF-TLP、HMM、HBM、MM 選項進行擴展

• 7.多種故障自動檢測方式（直流抽檢（V 或 I）或 IV 掃描、熔斷、擊穿和偏置電流變化）

• 8.軟件控制脈沖：突發、連續、IV 曲線表征

• 9.上升時間選項從 40 ps 到 1200 ns（取決于型號，可定制）

• 10.脈沖寬度選項從 1 ns 到 2000 ns（取決于型號，可定制）

注意：EOS 系列支持更長的脈沖應用，脈沖寬度從幾百 ns 到幾 ms。

三、應用

• ESD 性能表征

• 晶圓/封裝級ESD測試

• 系統/電路模塊ESD測試

• 安全操作區（SOA）測試

• 充電恢復時間測試

• 太陽能電池板二極管特性

• 觸摸屏 ITO 微帶線熔斷和擊穿測試